| 测量范围 | 无限 |
|---|---|
| 测量精度 | 0.001 |
| 产品适用范围 | 用于镀层测厚仪的校正及做档案 |
| 品牌 | 美国Calmetri |
| 型号 | 标准片 |
| 加工定制 | 是 |
美国UPA/VEECO 华中区X射线测厚仪镀层校正片
美国UPA/VEECO镀层标准片（薄膜片）包含有金，镍，银，锡，镉，钛，铁，铜，锌，铬，铝，钯，铅，钴，铂，钼，铑，钌，镐，镍磷合金，锡铅合金，锌镍合金，钯镍合金等等，有带底材和不带底材区分，满足大部分表面处理金属厚度测量的需要。
X射线测厚仪镀层标准片适用于费希尔Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、布鲁克Burker、热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、精工Seiko、岛津、电测、博曼BOWMAN、纳优、天瑞、华唯等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）的建档、校准和校验。
X射线测厚仪镀层标准片的特色：标准片NIST、A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好;
X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如：单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx，三镀层：
Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx，化学镀层：Ni-P/xx。（所有标准片都附有NIST证书，具有**性）
美国UPA/VEECO公司是专业生产X射线荧光金属镀层测厚仪标准片，以及对标准片进行重新鉴定，其所有证书都是符合NIST（National Institute of
Standards andTechnology美国**标准与技术研究院）标准或ANSI（American National Standards Institute美国**标准学会）标准。
X射线测厚仪镀层标准片又叫膜厚仪校准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。
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其他材质标准片及其他厚度标准片均可定制（都随产品附带美国NIST证书）
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